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fischer xdlm 237x射線熒光鍍層測厚儀的詳細資料：
公司宗旨:公司一貫堅持“質(zhì)量,用戶至上,優(yōu)質(zhì)服務(wù),”的宗旨,憑借著高質(zhì)量的產(chǎn)品,良好的信譽,優(yōu)質(zhì)的服務(wù),產(chǎn)品全國.竭誠與國內(nèi)外商家雙贏合作,共同發(fā)展,共創(chuàng)輝煌!
篤摯公司將以優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品、優(yōu)勢價格、優(yōu)秀服務(wù)，為您提供性高價比的解決方案。 篤摯儀器（上海）有限公司是德國菲希爾Fischer測厚儀，德國Elektrophysik（EPK）公司測厚儀，英國易高測厚儀，英國泰勒Taylor Hobson粗糙度儀、輪廓儀、圓度儀、圓柱度儀等的代理商，咨詢查看更多規(guī)格和配置的更詳細介紹。
FISCHERSCOPE-X-RAY XDLM x射線熒光鍍層測厚和材料分析儀：
FISCHERSCOPE®-X-RAYXDLM®儀器是普遍適用的能量色散X射線光譜儀。 它們構(gòu)成了成熟的FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-C4模型系列開發(fā)的下一步。 像它們的前輩一樣，它們特別適合于無損厚度測量和薄涂層分析以及批量生產(chǎn)的零件和印制板上的自動測量。有三個型號：XDLM 231具有平面支撐臺，XDLM 232具有手動操作的X / Y臺。 XDLM 237配備了一個電動X / Y平臺，當(dāng)打開防護罩時，該平臺會自動移到裝載位置。
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL和XDLM系列與XUL和XULM系列密切相關(guān)：兩者都使用相同的接收器，準(zhǔn)直器和濾片組合。配備了標(biāo)準(zhǔn)X射線管和固定準(zhǔn)直器的XDL儀器非常適合大工件的測量。XDLM型號的X射線源采用微聚焦管，可以測量細小的部件，對低輻射組分有較好的激勵作用。此外，XDLM配備了可自動切換的準(zhǔn)直器和多種濾片可以靈活地為不同的測量應(yīng)用創(chuàng)造*佳的激勵條件。
兩種型號的儀器都配備了比例接收器探測器。即使對于很小的測量點，由于接收器的接收面積很大，仍然可以獲得足夠高的計數(shù)率，確保良好的重復(fù)精度。比較XUL和XULM儀器而言，XDL和XDLM系列儀器測量測量方向從上到下。它們被設(shè)計為用戶友好的臺式機，使用模塊化結(jié)構(gòu)，也就是說它們可以配備簡單支板，各種XY工作臺和Z軸以適應(yīng)不同的需求。
特征：
• 帶玻璃窗口和鎢靶的X射線管或帶鈹窗口和鎢靶的微聚焦X射線管。*高工作條件:50KV,50W
• X射線探測器采用比例接收器
• 準(zhǔn)直器：固定或4個自動切換，0.05 x0.05 mm 到 Ø 0.3 mm
• 基本濾片：固定或3個自動切換
• 測量距離可在0-80 mm范圍內(nèi)調(diào)整
• 固定樣品支撐臺 ，手動XY工作臺
• 攝像頭用來查看基本射線軸向方向的測量位置?？潭染€經(jīng)過校準(zhǔn)，顯示實際測量點大小。
• 設(shè)計獲得許可，防護全面，符合德國X射線條例第4章第3節(jié)
典型應(yīng)用領(lǐng)域:
• 大批量電鍍件測量
• 防腐和裝飾性鍍層，如鎳或銅上鍍鉻
• 電鍍行業(yè)槽液分析
• 線路板行業(yè)如薄金，鉑和鎳鍍層的策略
• 測量接插件和觸點的鍍層
• 電子和半導(dǎo)體行業(yè)的功能性鍍層測量
• 黃金，珠寶和手表行業(yè)
| 通用規(guī)格 | |
| 設(shè)計用途 | 能量色散X射線熒光光譜儀（EDXRF）用于確定薄涂層，小結(jié)構(gòu)，痕跡和合金。 |
| 元素范圍 | 氯Cl（17）至鈾U（92）–同時多達24種元素 |
| 設(shè)計理念 | 臺式儀器，測量門向上開啟 |
| 測量方向 | 由上往下 |
| X射線源 | |
| X射線管 | 帶鈹窗口的鎢管 |
| 高壓 | 可調(diào)： 30 kV，40 kV，50 kV |
| 孔徑（準(zhǔn)直器） | 4倍可更改：Ø0.1毫米; Ø0.2毫米 Ø0.3毫米 插槽0.05毫米x 0.05毫米（其他可根據(jù)要求提供） |
| 測量點尺寸 | 取決于測量距離及使用的準(zhǔn)直器大小， 實際的測量點大小與視頻窗口中顯示的* 小的測量點大?。杭s Ø0.15mm |
| X射線探測 | |
| X射線接收器 | 比例接收器 |
| 電氣參數(shù) | |
| 電源要求 | AC 115 V or AC 230 V 50 / 60 Hz |
| 功率 | 大 120 W （不包括計算機） |
| 保護等級: | IP40 |
| 尺寸規(guī)格 | |
| 外部尺寸 | 寬×深×高[mm]：570×760×650 |
| 內(nèi)部測量室尺寸 | 寬×深×高[mm]：460×495x（參考“樣品大高度”部分的說明） |
| 重量 | 105 kg |
| 環(huán)境要求 | |
| 使用時溫度 | 10°C – 40°C |
| 存儲或運輸時溫度 | 0°C – 50°C |
| 空氣相對濕度 | ≤ 95 %，無結(jié)露 |
| 工作臺 | |
| 設(shè)計 | 固定工作臺 |
| Z軸行程 | 140 mm |
| 可用樣品放置區(qū) | 463 x 500 mm |
| 樣品大重量 | 20kg |
| 樣品大高度 | 140 mm |
應(yīng)用實例:
XDLM測量系統(tǒng)經(jīng)常用來測量接插件和觸點的各種底材上的Au/Ni，Au/PdNi/Ni，Ag/Ni或Sn/Ni鍍層的厚度。通常功能區(qū)都是很小的結(jié)構(gòu)如*或突起，測量這些區(qū)域必須使用很小的準(zhǔn)直器或適合樣品形狀的準(zhǔn)直器。例如測量橢圓形樣品時，就要使用開槽的準(zhǔn)直器以獲得大的信號強度。
PCB測量: Au/Ni/Cu/PCB |
電鍍液成份分析Cu, Ni, Au (g/l) | |
防腐保護性鍍層: Zn/Fe | ||
